Руководиоци: Дана Васиљевић Радовић и Данијела Ранђеловић
Група се бави карактеризацијом наноматеријала и структура, МЕМС и НЕМС направа и система. Користе се методе сканирајуће сонде (микроскопија атомских сила – atomic force microscopy, AFM), ултраљубичаста, видљива и инфрацрвена спектроскопија, као и инфрацрвена микроскопија.
Тематика
- Микроскопија атомских сила
- Наноизрада сканирајућом сондом
- УВ, видљива и ИЦ спектроскопија
- ИЦ микроскопија
- Холова мерења
- Симулација методом коначних елемената
