Rukovodioci: Dana Vasilјević Radović i Danijela Ranđelović
Grupa se bavi karakterizacijom nanomaterijala i struktura, MEMS i NEMS naprava i sistema. Koriste se metode skanirajuće sonde (mikroskopija atomskih sila – atomic force microscopy, AFM), ultralјubičasta, vidlјiva i infracrvena spektroskopija, kao i infracrvena mikroskopija.
Tematika
- Mikroskopija atomskih sila
- Nanoizrada skanirajućom sondom
- UV, vidlјiva i IC spektroskopija
- IC mikroskopija
- Holova merenja
- Simulacija metodom konačnih elemenata
